现货*美国TSI光学颗粒物粒径谱仪

现货*美国TSI光学颗粒物粒径谱仪TSI3330，该仪器采用单粒子计数技术，使用 的 120°光收集光学系统和精致的电子处理装置，从而获得的高质量数据。主要用于快速的测量粒子浓度和粒径分布检测。可用于工作场所及环境的空气质量监测.

现货*美国TSI光学颗粒物粒径谱仪TSI3330客户案例

珠海固得焊接自动化设备有限公司广州市中盛恒业科技有限公司广东华特力电气自动化有限公司东莞威煌电器制品有限公司

现货*美国TSI光学颗粒物粒径谱仪TSI3330特点

   0.5微米时粒径分辨率小于5%

　 粒径通道用户可调

　 检测粒径范围：0.3-10微米， 多16通道

　 颗粒物粒径感应范围：0.525 mm

　 检测浓度范围：0-3000 个 /cm3

　 彩色触摸屏，直观的用户界面

　 全满足ISO 21501-01/04要求

　 入折射率和密度可以同时显示颗粒物数浓度和质量浓度

　 集的采样膜可进行称重测量和化学分析

　 电池电量可供20小时的操作

　 多可存储30000个数据

　 录每个样品的温度和压力

现货*美国TSI光学颗粒物粒径谱仪TSI3330规格参数

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